北京大学造山带与地壳演化教育部重点实验室
SEM-CL-TIMA 实验室
一 实验室介绍
TIMA 实验室位于北京大学逸夫二楼3138。以TESCAN公司热场发射扫描电子显微镜为平台，配有TESCAN公司的综合矿物分析TIMA( Tescan Integrated Mineral Analyzer) 系统、极高分辨率的背散射电子（BSE）图像采集系统、X射线能谱仪（EDX）快速成像分析系统和高清晰-大视野阴极发光CL图像采集系统，可同时获取微区二次电子图像、背散射电子图像和CL图像。实验配备专业的矿物相海量数据分析与处理软件（TIMA-X），辅助分析结果和生成报告。TIMA-X全自动矿物分析系统，利用电镜的BSE像和能谱仪的元素分析能力可以对地质或材料样品进行快速的定性和定量分析，提供关于矿相、矿相丰度，结构关系，粒度分布以及离稀程度等定量信息。
实验室主要工作对固态地质样品进行快速定量矿物分析，识别矿物类型，测量矿物分布、颗粒大小、解离或锁定目标矿物/特殊矿物相,阴极发光（CL）图片拍摄及分析。
矿相与选矿检测设计方案：
矿相与选矿检测设计方案（制备样品要求）：
粉末/颗粒样品海量信息提取与分析
粉末/颗粒样品海量信息提取与分析
粉末/颗粒样品海量信息提取与分析
薄片矿物复杂的共生组合与构造关系
TIMA系统获取的高清晰石榴子石镁元素丰度面图
TIMA实验室大视野-高分辨率阴极荧光CL图像
锆石CL结构图像（扫描时间90秒）
同时获取锆石的阴极发光（加载CL探头）和锆石颗粒内部包体矿物相图
二 测试项目
测试项目 |
技术手段 |
现有标样 |
备注 |
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CL图像 |
肖特基场发或热离子发射扫描电镜+CL探头 |
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用户自行拍摄 |
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二次电子/背散射图像 |
肖特基场发或热离子发射扫描电镜+BSE探头 |
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用户自行拍摄 |
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TIMA测试 |
EDX探头+TIMA数据处理分析 |
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树脂靶 – 直径25或 30mm 薄片– 27mm x 47mm |
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EDS测试 |
四台EDS探头同步接收 |
内标 |
树脂靶 – 直径25或 30mm 薄片– 27mm x 47mm |
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三 用户须知
用户电话预约或上门预约并登记以下信息（实验人姓名 单位 导师 电话 送样日期 样品编号 镀膜类型C/Cr 扫描类型（CL-SE/BSE-TIMA测试面扫/区域扫描） 扫描精度）并提前将样品送至实验室，实验室样品仓可放树脂靶 – 直径25或 30mm 薄片– 27mm x 47mm，TIMA薄片样品面扫范围为薄片样品台大小如样品过大且需要进行面扫需提前与实验室联系确定切割尺寸。
本实验室CL-SE/BSE拍摄通常采用半自动模式工作，用户需在实验室进行拍摄，监控仪器条件，发现有异常即刻与工作人员联系，尽快解决问题，TIMA分析测试采用全自动工作模式用户只需实验完毕后自行处理数据即可。
四 实验室地址：北京大学逸夫贰楼一层3138
实验室电话：010-62758325
